SC-V

X-ray-inspectie en optische controle in een compacte unit

Het model SC-V staat voor het neusje van de zalm op vlak van inspectietechniek. Het verbindt het betrouwbaar opsporen van vreemde voorwerpen in producten door middel van een hoge precisie X-rayscanner met extra ontwikkelde optische controlesystemen. Deze technologie is door WIPOTEC-OCS ontwikkeld.

Deze inspectiesystemen controleren op de producten afgedrukte informatie (partijgegevens, voedingswaarden, houdbaarheid) op juistheid en controleren of het uiterlijk onberispelijk is, dat wil zeggen of de labels en etiketten juist zijn geplaatst en goed leesbaar zijn. Beide inspectie-eenheden – X-raytechniek en optische controle – zijn ruimtebesparend in één constructie gecombineerd.